Микроскоп измерительный ИМ-Ц-500 П ЧПУ
В наличии
Оптом и в розницу
Цену уточняйте
Микроскоп измерительный ИМ-Ц-500 П ЧПУ
(Прибор прошел испытания на утверждение типа и внесен в Госреестр средств измерений!
№89837-23)
Назначение средства измерений
Микроскопы измерительные ИМ-Ц предназначены для измерений линейных и угловых размеров деталей.
Описание средства измерений
Основными элементами конструкции микроскопов являются гранитное основание, на которое установлены предметный столик с нижним осветителем и вертикальный портал с подвижной оптической системой, включающей в себя измерительный блок и верхний осветитель. Измерительный блок оснащается оптической видеоизмерительной системой.
Принцип действия ИМ-Ц – считывание с электронных измерительных шкал осей X, Y значений перемещений подвижного предметного стола, и с измерительной шкалы оси Z значений перемещений видеоизмерительного блока. При измерениях по оси Z предусмотрена функция автоматической фокусировки. При необходимости, для измерений по оси Z, приборы могут быть оснащены контактным датчиком. Измерения могут проводиться в ручном или автоматическом режимах.
В качестве блока обработки и вывода результатов измерений микроскопы комплектуются персональным компьютером.
Элементы управления яркости освещения и выключения микроскопов могут располагаться на лицевой или боковой поверхности основания.
По заказу внешний дизайн и расположения органов управления могут быть изменены.
Метрологические характеристики
Наименование характеристики | Значение | ||||
---|---|---|---|---|---|
Модификация | ИМ-Ц-500 П | Возможены аналоги | |||
ИМ-Ц-300 П | ИМ-Ц-400 П | ||||
Диапазон измерений линейных размеров по оси X, мм | от 0 до 500 | от 0 до 300 | от 0 до 400 | ||
Диапазон измерений линейных размеров по оси Y, мм | от 0 до 500 | от 0 до 300 | от 0 до 400 | ||
Диапазон измерений линейных размеров по оси Z*, **, мм | от 0 до 350 | ||||
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений линейных размеров: | |||||
для микроскопов класса точности 5 по оси (X, Y) ***, мкм | ±(2,9+L/200) | ||||
для микроскопов класса точности 4 ***, мкм: | |||||
- по оси (X, Y) | ±(2,8+L/200) | ||||
- в плоскости двух осей (X, Y) | ±(4,3+L/200) | ||||
- по оси Z* | ±(2,8+L/100) | ||||
для микроскопов класса точности 3 ***, мкм: | |||||
- по оси (X, Y) | ±(1,8+L/200) | ||||
- в плоскости двух осей (X, Y) | ±(2,6+L/200) | ||||
- по оси Z* | ±(1,8+L/100) | ||||
для микроскопов класса точности 2 **, мкм: | |||||
- по оси (X, Y) | ±(1,3+L/100) | ||||
- в плоскости двух осей (X, Y) | ±(2,2+L/100) | ||||
- по оси Z* | ±(1,7+L/100) | ||||
для микроскопов класса точности 1 *, мкм: | |||||
- по оси (X, Y) | ±(1,0+L/100) | ||||
- в плоскости двух осей (X, Y) | ±(2,1+L/100) | ||||
Диапазон измерений плоского угла | От 0º до 360º | ||||
Пределы допускаемой абсолютной погрешности измерений плоского угла | ±14ʺ | ||||
* - по заказу возможно уменьшение диапазона, значение приведено в паспорте; ** - при наличии контактного датчика; *** - где L – длина объекта в мм; |
Программное обеспечение ProfVision
с функцией автоматического сканирования контура
Отображение площади измерения
Эта область в основном используется для отображения изображения и его измерения. Пользователь может сделать более четкое изображение измеряемой детали, регулируя ось Z и освещение. Пользователь может перемещаться по осям X \ Y измеряемой детали и проводить измерения. Области изображения и область редактирования интегрированы в эту программу, пользователь может выполнять измерения на детали непосредственно с помощью панели инструментов.
Полное отображение на дисплее и панель инструментов.
Это окно для отображения всех объектов, которые были сделаны. Для некоторых деталей больших размеров, этот инструмент можно фиксировать только на локальной площади и редактировать элементы. Используя функцию полного отображения, пользователь получает более полную информацию изображения измеряемого элемента а также результаты измерений. Эта область обеспечивает параллельное движение, увеличение, уменьшение, общий обзор, элемент маркировки, сетку и вывод данных
Особенности программного обеспечения:
- Интерфейс программного обеспечения полностью на РУССКОМ языке (измерение стандартных геометрических элементов, интерфейс программы и формируемые протоколы измерений на РУССКОМ языке).
- Расширение программного обеспечения до уровня CAD (контроль деталей, состоящих из геометрических элементов, с использованием CAD-моделей).
- Возможность измерения деталей с криволинейным профилем.
- Возможность измерения параметров формы (измерение прямолинейности, параллельности, перпендикулярности, округлости, симметрии и т.д.)
- Возможность получения фактических размеров при сравнении с dxf моделями.
- Загруженная dxf модель должна являться программой для выполнения измерений.
- Возможность обратного инжиниринга, выгрузить электронный чертеж интегрировать в программу Компас, Autocad .
- Возможность редактирования протоколов измерений.
- Вывод протокола в форматах Word и Excel
- Наличие опции связи удаленного управления.
- Возможность плавной регулировки диаскопического и эпископического освещения по сегментам
- Возможность дублирования изображения на весь экран второго монитора каждого сектора по отдельности: сектор видеоизображения детали, сектор графической отрисовки измеряемых элементов, сектор показания систем координат, сектор кнопок управления, сектор параметров измеренных элементов, сектор регулировки освещения, а также любого другого сектора интерфейса программного обеспечения.